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Développement des objets connectés : comment mieux gérer les problématiques CEM ?

 

Tout produit électronique doit passer une validation CEM dans un labo agrée, selon une méthodologie strictement définie par les standards. Les objets connectés ne dérogent pas à la règle, et du fait de la pression supplémentaire liée à leur mise sur le marché rapide et à faible coût, échouer la validation CEM est une réelle préoccupation pour tous les concepteurs ou intégrateurs.

Dans ce webinaire, nous rappellerons les bases du test CEM (différents tests existants, quelle instrumentation est utilisée, comment est-elle paramétrée…) puis nous verrons qu’il existe des solutions d’investigation et de pré-conformité pouvant être utilisées à tout moment du cycle de développement de l’objet connecté, optimisant ainsi les chances de passer la validation CEM du 1e coup.

Conférence animée par :

Pierre Dupont

Pierre Dupont

Ingénieur d'Applications,

Tektronix

Intervenant Webikeo

JD MONTALESCOT

ITC,

DISTRAME

Mercredi 21 Septembre 2016

de 14H00 à 14H45

122 inscrits | 45 mn

Inscription 100% gratuite

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Rediffusion jusqu'au 19/08/2019

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